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影响介质损耗测量的因数

来源:admin ??发布时间:2018-10-13 13:49

摘要:介质损耗tanδ偏大的原因分析

影响介质损耗测量的因数

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介质(起决定作用的物质)损耗测试的要求
在电力预防性试验项目(xiàng mù)中,针对变压器电压等级为35kv及以上并且容量在8000kvA及以上的电力变压器,要求测量变压器的介质(起决定作用的物质)损耗角正切值tanδ是电气设备(shèbèi)交接试验标准中明确规定(guī dìng),测量结果必须符合以下要求:
被测绕组的tanδ值不大于产品出厂试验值的130%;
影响介质(起决定作用的物质)损耗测量的因数
温度(temperature)影响(influence):首先明确的说,温度对介质损耗测量结果有直接的影响,影响的程度随着绝缘材料,设备(shèbèi)结构的不同而异,一般情况(Condition),tanδ会随着温度的升高而变大,测量过程中应当将在不同温度下测量得出的结果换算至20℃时,在进行比较。电缆故障定点仪是一套综合性的电缆故障探测仪器。能对电缆的高阻闪络故障,高低阻性的接地,短路和电缆的断线,接触不良等故障进行测试,若配备声测法定点仪,可准确测定故障点的精确位置。特别适用于测试各种型号、不同等级电压的电力电缆及通信电缆。
受试验电压的影响: 理论情况(Condition)下,良好绝缘的tanδ不随试验电压的升高而明显增长,如果内部有缺陷,则tanδ值会随试验电压的升高而明显增长
tanδ与试品电容的关系影响(influence):对于电容较小的设备(shèbèi)(套管、互感器、耦合(Coupling)电容器等)测量tanδ值有效的发现局部集中性和整体分布性的缺陷,但是对于电容量较大的设备,测量介质(起决定作用的物质)损耗只能发现绝缘(insulated)的整体分布性缺陷,原因是因为,局部集中性的缺陷引起的损耗增加只占总损耗的极小部分,这也是tanδ不能反应大容量被试品局部集中性缺陷的原因,也是大型变压(气压变量)器除了测量本体介质损耗之外还需要测量单套管tanδ的原因。电缆故障检测仪是维护各种电缆的重要工具。电缆故障智能测试仪采用了多种故障探测方式,应用当代最先进的电子技术成果和器件,采用计算机技术及特殊性电子技术,结合长期研制电缆测试仪的成功经验而推出的高科技,智能化,功能全的全新产品
下图是介质(起决定作用的物质)损耗角正切值tanδ温度换算系数表:
tanδ偏大的原因分析
陶瓷表面受潮,瓷套表面电阻(resistance)的大小直接影响介质损耗测量的准确度,主要是因为表面电阻与体积电阻并联在共同,当采用介质损耗测试(TestMeasure)仪反接法时, 介质损耗tanδ值会偏大,所以在测量之前,用干毛巾,电吹风或者远红外烘烤(说明:用火燥物烤东西)表面,也可以用挥发性较强的液体清洗表面,可以有效的防止tanδ值偏大的问题(Emerson)。
电场干扰,干扰电流(Electron flow)与被试电流之间的干扰,使tanδ测量结果大于实际值,此时,应当采用试验电源移项法测量tanδ值,建议用抗干扰介质(起决定作用的物质)损耗测试(TestMeasure)仪或者异频介质损耗测试仪进行测量。电缆识别仪是用于将某一特定电缆从一束电缆中识别出来的专用仪器。它是紧凑型仪器,装在铝合金箱内,由一个信号发生器,一个带传感器的接收机及连线构成。
被试品Cx接地回路不良也会影响(influence)值的大小。
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